探伤仪对缺陷方面的显示方法「小知识」

　　探伤仪常用X射线探伤仪和同位素发射的γ射线，分别称为X射线探伤和γ射线探伤。当这些射线穿过一种物质时，该物质的密度越大，射线的强度越弱，也就是说，能穿透该物质的射线的强度越小。这时，如果用摄影胶片来接收，胶片的感光量就会小；如果用仪器接收，得到的信号会很弱。因此当用射线照射被探伤仪损伤的零件时，如果零件中存在气孔、夹渣等缺点，则射线通过缺点路径透射的材料密度比没有缺点的材料密度小得多，其强度减弱较小，即透射强度较大，如果零件被负片接收，则感光度较大，从而可以从负片上反射出垂直于射线方向的缺点的平面投影。如果使用其他接收设备，也可以使用仪器来反射垂直于射线方向的缺点的平面投影和射线透射量。
　　如果超声频率高，传播线性强，在固体中容易传播，遇到两种不同介质形成的界面容易反射，可以用于探伤。探头可以向工件发射信号，并能接收从界面反射的超声波，同时将其转换成其他信号，再传送到仪器进行处理。根据超声波在介质中的传播速度和传播时间，可以知道缺点的位置。
　　探伤仪显示缺陷的方式很多，有的用磁粉显示，有的不用磁粉显示。先对该设备有正确的了解，合理的进行治理并且能够正确的使用才能得出正确结论。如有其它问题，欢迎前来致电。